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實(shí)驗(yàn)室服務(wù)
半導(dǎo)體器件的失效分析流程,國(guó)際國(guó)內(nèi)公認(rèn)的方法是從非破壞性試驗(yàn)手段到破壞性試驗(yàn)手段
具體可參考下列圖表:
無(wú)錫華進(jìn)????? 北京智芯微
北京軟件檢測(cè)???? 華測(cè)檢測(cè)
美信檢測(cè)????
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